第1章  粉末衍射原理

  1.1  引言

  1.2  基本原理

  1.3  布拉格方程的推导

  1.4  基于倒易点阵的布拉格方程

  1.5  Ｅwald图

  1.6  关于布拉格方程的导数

  1.7  有限晶粒大小的布拉格定律

  参考书目

第2章  实验装置

  2.1  引言

  2.2  Ｘ射线辐射源

    2.2.1  实验室犡射线源

    2.2.2  同步犡射线源

  2.3  Ｘ射线光学元件

    2.3.1  滤光片

    2.3.2  单色器

    2.3.3  反射镜

  2.4  Ｘ射线探测器

    2.4.1  点探测器

    2.4.2  线探测器

    2.4.3  面探测器

    2.4.4  探测器校准

  2.5  实验室设备配置

    2.5.1  反射几何

    2.5.2  透射几何

  2.6  同步辐射设备配置

    2.6.1  前置于样品的光学元件

    2.6.2  基于平行光束的设备

    2.6.3  德拜-谢乐几何设备

  2.7  测试

    2.7.1  样品架

    2.7.2  标准样品

    2.7.3  数据收集

  2.8  能量色散Ｘ射线粉末衍射

  2.9  中子粉末衍射

    2.9.1  中子的性质

    2.9.2  中子源

    2.9.3  中子的探测

    2.9.4  单色化技术

    2.9.5  飞行时间技术

  参考文献

第3章  布拉格衍射强度

  3.1  引言

  3.2  单原子散射理论

    3.2.1  X射线散射

    3.2.2  中子散射

  3.3  晶体点阵的散射

    3.3.1  热运动效应

    3.3.2  洛伦兹因子

    3.3.3  调制晶体点阵的散射

    3.3.4  中子磁矩散射

  3.4  多晶粉末的散射

    3.4.1  Friedel衍射对的重叠

    3.4.2  衍射多重性

    3.4.3  织构效应

    3.4.4  吸收效应

  致谢

  参考文献

第4章  常规数据还原

  4.1  引言

  4.2  伪衍射峰（异常值）的消除

  4.3  背景的拟合与扣除

  4.4  数据平滑

    4.4.1  移动多项式平滑（犛犪狏犻狋狕犽狔犌狅犾犪狔法）

    4.4.2  数字低通滤波

  4.5  Ｋα2剥离

  4.6  寻峰算法

    4.6.1  爬山寻峰法

    4.6.2  二阶导数寻峰法

    4.6.3  预定峰形寻峰法

  4.7  线形函数与线形拟合

  4.8  系统误差的确定与校正

    4.8.1  外标

    4.8.2  内标

    4.8.3  结合点阵常数精修的校正

  参考文献

第5章  提取强度的布拉格衍射线形分析

  5.1  引言

  5.2  谱峰线形函数贡献概述

  5.3  仪器像差

    5.3.1  最大尺寸效应研究成果

    5.3.2  射线的蒙特卡罗循踪

  5.4  样品宽化

    5.4.1  晶粒尺寸

    5.4.2  点阵应变

    5.4.3  各向异性样品宽化：层错

  5.5  单峰拟合与线形分析

    5.5.1  面向强度或位置提取的峰形拟合———晶胞信息已知或未知

    5.5.2  有关尺寸／畸形信息提取的单峰分析

    5.5.3  更高层次地逼近

  5.6  无结构的全粉末谱图分解（WPPD）

    5.6.1  无晶胞限制

    5.6.2  受限于晶胞的全粉末谱图分解

    5.6.3  WPPD的主流应用

  5.7  结论

  参考文献

第6章  X射线粉末衍射中有关线形的仪器因素———基于Bragg-Brentano几何的衍射仪

  ……

第7章  指标化和空间群识别

第8章  晶体结构解析

第9章  Rietveld精修

第10章  差值导数最小化法

第11章  定量物相分析

第12章  微结构性质：织构和宏观应力效应

第13章  微结构性质：点阵缺陷和晶畴尺寸效应

第14章  使用面探测器的二维衍射

第15章  非常规条件下的粉末衍射

第16章  基于全散射和原子对分布函数（PDF）的局域结构分析

第17章  粉末衍射计算机软件

索引