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出版时间:2015年4月

出版社:机械工业出版社

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  • 机械工业出版社
  • 9787111493433
  • 1版
  • 105997
  • 0044166411-7
  • 压膜
  • 16开
  • 2015年4月
  • 350
  • 318
  • 工学
  • 电子科学与技术
  • TN79
  • 电子
  • 本科
内容简介
本书论述数字系统测试和可测性设计,通过数字电路设计实例和方法阐明测试和可测试性的概念。本书采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用的好处是,Verilog消除了BIST和DFT硬件体系结构所使用的测试算法中不清楚的地方,详细地描述了可测试性的硬件和测试场景的结构。同时还使用Verilog描述了许多片上解压缩算法,以帮助工程师从硬件开销和测试时间两个方面来评价这些算法,从而使其在系统级芯片设计中更具可行性。
目录
前言 教学建议
第1章 数字逻辑系统基础
 1.1 数字逻辑系统简介
  1.1.1 模拟信号与数字信号
  1.1.2 模拟系统与数字逻辑系统的区别
  1.1.3 数字逻辑系统的特点
 1.2 数制、码制、基本逻辑门
  1.2.1 数制及其转换
  1.2.2 常用码制及其特点
  1.2.3 基本逻辑关系与逻辑门
 1.3 数字逻辑系统分析与设计的基本概念
 习题
第2章 逻辑代数与逻辑函数
 2.1 逻辑代数
  2.1.1 逻辑代数的基本公理
  2.1.2 逻辑代数的基本定律
  2.1.3 逻辑代数的基本定理
 2.2 逻辑函数及其表示方法
  2.2.1 逻辑函数
  2.2.2 逻辑函数的表示方法
  2.2.3 逻辑函数的标准形式
 2.3 逻辑函数的化简
  2.3.1 公式化简法
  2.3.2 卡诺图化简法
 习题
第3章 组合逻辑电路分析与设计
 3.1 小规模组合逻辑电路分析与设计
  3.1.1 组合逻辑电路的定义与描述
  3.1.2 小规模组合逻辑电路的分析
  3.1.3 小规模组合逻辑电路的设计
 3.2 常用组合逻辑功能器件
  3.2.1 编码器
  3.2.2 译码器
  3.2.3 数据选择器与数据分配器
  3.2.4 数据比较器
  3.2.5 加法器
  3.2.6 8421BCD码与二进制码转换器
  3.2.7 广义译码器
 3.3 组合逻辑电路的VHDL描述
  3.3.1 硬件描述语言与VHDL概述
  3.3.2 常用逻辑器件的VHDL描述
 3.4 大规模组合逻辑电路的计算机辅助设计流程
  3.4.1 计算机辅助设计的一般流程
  3.4.2 Quartus II简介
  3.4.3 设计实例
 习题
第4章 时序逻辑电路分析与设计
 4.1 时序逻辑电路简介
  4.1.1 时序逻辑电路的基本概念
  4.1.2 时序逻辑电路的分类
 4.2 触发器
  4.2.1 触发器及其分类
  4.2.2 触发器的描述方法
  4.2.3 RS触发器
  4.2.4 D触发器
  4.2.5 JK触发器
  4.2.6 锁存器与触发器的VHDL描述
  4.2.7 T(T′)触发器
 4.3 小规模时序逻辑电路的一般分析方法
  4.3.1 同步时序逻辑电路的分析方法
  4.3.2 异步时序逻辑电路分析举例
 4.4 小规模时序逻辑电路的一般设计方法
  4.4.1 设计步骤及设计举例
  4.4.2 有限状态机的VHDL描述
 4.5 常用时序逻辑功能器件
  4.5.1 计数器
  4.5.2 寄存器与移位寄存器
  4.5.3 顺序脉冲发生器与序列信号发生器
 4.6 时序逻辑电路的计算机辅助分析与设计举例
  4.6.1 时序逻辑电路的计算机辅助分析举例
  4.6.2 时序逻辑电路的计算机辅助设计举例
 习题
第5章 半导体存储器
 5.1 概述
 5.2 只读存储器
  5.2.1 组成框图
  5.2.2 掩膜ROM
  5.2.3 可编程ROM
  5.2.4 电擦除EPROM
  5.2.5 闪存
 5.3 随机存取存储器
  5.3.1 静态RAM
  5.3.2 双口RAM与先入先出RAM
  5.3.3 动态RAM
  5.3.4 铁电RAM
 5.4 存储器的应用
  5.4.1 字扩展和位扩展
  5.4.2 实现组合逻辑函数
 习题
第6章 数模与模数转换器
 6.1 概述
 6.2 数模转换器
  6.2.1 DAC主要性能
  6.2.2 电阻串DAC
  6.2.3 电阻解码DAC
  6.2.4 恒流源DAC
  6.2.5 电容DAC
  6.2.6 其他类型DAC
  6.2.7 新型集成DAC简介
 6.3 模数转换器
  6.3.1 ADC主要性能
  6.3.2 快闪型ADC
  6.3.3 反馈比较型ADC
  6.3.4 双积分型ADC
  6.3.5 其他类型ADC
  6.3.6 新型集成ADC简介
  6.3.7 等效采样技术
 习题
第7章 可编程逻辑器件
 7.1 概述
  7.1.1 PLD发展历程
  7.1.2 PLD分类
  7.1.3 PLD常用逻辑符号
 7.2 低密度可编程逻辑器件
  7.2.1 PAL器件
  7.2.2 GAL器件
 7.3 高密度可编程逻辑器件
  7.3.1 CPLD器件
  7.3.2 FPGA器件
 7.4 硬件测试与编程
  7.4.1 硬件测试技术
  7.4.2 配置与编程
 习题
第8章 应用数字系统设计
 8.1 概述
  8.1.1 系统设计
  8.1.2 开发环境与设计方法
  8.1.3 器件选型
 8.2 等精度频率计的设计
  8.2.1 设计任务
  8.2.2 方案论证
  8.2.3 创建设计工程
  8.2.4 功能模块设计
  8.2.5 系统仿真
 8.3 信号发生器的设计
  8.3.1 设计任务
  8.3.2 方案论证
  8.3.3 创建设计工程
  8.3.4 功能模块设计
  8.3.5 系统仿真
  8.3.6 优化改进
  8.3.7 功能扩展
 习题
参考文献